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2009年高可靠度電子產品技術研討會成果

新聞出處:NSPO 2009/09/30

國研院太空中心品保組,於民國98年9月24日假整測大樓2樓,舉辦「2009年高科技電子產品可靠度技術研討會」。本研討會就可靠度設計分析、環境效應與失效模式、加速壽命試驗規劃與分析、電子封裝可靠度評估、環境與可靠度試驗方法技術等議題研討。邀請國內在可靠度領域學有專精之研究人員及學界教授,從基礎理論到實際工作經驗,對現代可靠度評估技術做一整體說明,本研討會的目的是協助產業界在高競爭的市場環境下,做到節省成本,與兼顧品質的保障,降低售後維修率與損壞…,將產業提高國際間的競爭力,這也是本研討會最終目的。本次研討會計有產官學界近120名參與,踴躍參與盛況空前,會議圓滿成功。